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在萬能試驗機中添加嵌入式測控技術目前在試驗機行業中算是最為先進的控制技術，隨著試驗機行業的發展和對工業材料檢測標準和控制效率的提高，采用傳統的單一的單片機控制下的試驗機已經不能滿足工業需求。在嵌入式試驗機測控系統發展過程中大致經歷如下幾個階段：

1、             以8位單片機為下位機核心的試驗機嵌入式測控系統，該系統是目前較為流行的試驗機測控系統，是最早的試驗機嵌入式測控系統方式。該系統主要應用于要求較高的工業領域，但是沒有系統的上位機軟件支持。其主要特點就是：這種測控系統技術相對簡單，用戶接口少，實時性低，無法滿足大容量存儲。

2、             以現有的高級單片機為核心的試驗機嵌入式測控系統，其中所謂的高級芯片包括CPLD、FPGA和ARM系列單片機等。該系統的主要特點是：系統的功能定制方便，在進行試驗時實時性高，而且采用高端單片機在后期產品升級上占有很大優勢。以同種類型的單片機作為控制核心的試驗機測控系統，可以更換同種類的單片機。同時采用高端單片機可以支持復雜電路結構和多種中斷處理，提供豐富的接口資源。